日立超高分辨率顯微鏡銀銅納米顆粒觀察實(shí)例
[內(nèi)容提要]:2011年日立推出了一款超高分辨率電子顯微鏡SU9000，它是一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，同時(shí)其也是目前世界上分辨率[tallest的掃描顯微鏡，次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。
據(jù)悉，2011年日立推出了一款超高分辨率電子顯微鏡SU9000，它是一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，同時(shí)其也是目前世界上分辨率[tallest的掃描顯微鏡，次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。
日立SU9000電子顯微鏡相比其他顯微鏡分辨率明顯有很大優(yōu)勢(shì)，這是因?yàn)榇丝田@微鏡采用了全新設(shè)計(jì)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作，可以高效的獲取樣品的超高分辨掃描電鏡照片。
對(duì)于金屬納米顆粒來(lái)說(shuō)，隨著比表面積的大小和量子尺寸效果的不同，它們會(huì)帶有不同的物理屬性。以此為研究點(diǎn)，金屬納米顆粒在催化劑、發(fā)光材料或納米壓印等多種領(lǐng)域的應(yīng)用被廣泛期待。其中相對(duì)[cheapest的銀銅納米顆粒更能夠降低成本。現(xiàn)在，我們可以使用TEM/STEM法來(lái)觀察或控制粒徑。
.jpg)
上圖即為銀銅納米顆粒的BFSTEM畫(huà)像和DFSTEM圖像
從BFSTEM畫(huà)像可看出顆粒大小約為10 nm，高對(duì)比度觀察下可確認(rèn)顆粒的分布形式，即2個(gè)顆粒相鄰或核-殼型分布。此外，從DFSTEM畫(huà)像的Z對(duì)比度可看出銀和銅是可以分離存在的。
